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DualScope MP0鐵基非鐵兩用測厚儀 儀器集成了探頭,便于操作 出色的重復(fù)精度 受基材透磁率、電導(dǎo)率和幾何形狀(曲率和厚度等)影響小 享有的電導(dǎo)率補(bǔ)償技術(shù)(電渦流方法) 快速的單手操作:將儀器放置于工件上即可看到測量讀數(shù) 兩個背光液晶顯示屏,便于從各個角度讀取測量值,甚至可從儀器頂部讀取讀數(shù)
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菲希爾測厚儀新探頭信息 德國菲希爾Fischer涂層測厚儀FMP10/FMP20/FMP30/FMP40 產(chǎn)品說明由篤摯儀器提供: FMP10和FMP20說明: DELTASCOPE® FMP10 用于測量非鐵磁性金屬涂層,例如鋼鐵上的鉻、銅、鋅以及涂料、油漆、瓷漆或塑料涂層。
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Fischer DUALSCOPE MP0膜厚儀優(yōu)勢分析 足夠小巧,甚至可以在比較難接觸到的區(qū)域進(jìn)行可靠的測量
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Fischer FGAB1.3磁性膜厚儀探頭 FGAB1.3探頭:FMP10、FMP30標(biāo)準(zhǔn)探頭:FGAB1.3是一款磁感應(yīng)探頭,是DeltaScope FMP10和DeltaScope FMP30磁性測厚儀的標(biāo)準(zhǔn)探頭,*!FGAB1.3 : 604-141帶微處理芯片的智慧型插入式磁感應(yīng)探頭。若需要時,可修改存儲器。并有抗磨損涂層
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FTD3.3曲率補(bǔ)償膜厚儀探頭測量非鐵磁性金屬基材(NC / NF)上的非導(dǎo)電涂層。 具有良好的曲率補(bǔ)償,特別適用于曲面上的測量,如車身,百葉窗等。不適用:與酸性液體接觸,測量小型薄涂層 凹曲率直徑。
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X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀XDL-230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,采用手動方式,測量和分析印刷電路板、防護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。德國菲希爾X射線膜厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230//240