德國(guó)EPK*MiniTest7400測(cè)厚儀

• 更新時(shí)間：2019-12-23
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德國(guó)EPK*MiniTest7400測(cè)厚儀
德國(guó)EPK高精度涂層測(cè)厚儀MiniTest 7400 創(chuàng)新的用戶界面概念結(jié)合便捷的數(shù)據(jù)管理，新產(chǎn)品MiniTest7400成為今天測(cè)量系統(tǒng)理想的解決方案。新概念的優(yōu)勢(shì)直觀的菜單控制及與上下文相關(guān)的聯(lián)機(jī)幫助，使用簡(jiǎn)易。大背光按鍵，即使戴著手套操作，也倍感舒適。大背光圖形顯示頻提供的觀察效果，即使在晚上或能見(jiàn)度極低的條件下使用也極其方便。

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德國(guó)EPK*MiniTest7400測(cè)厚儀

    鍍層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。鍍層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，測(cè)量范圍較小，X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后，采用X射線鍍層測(cè)厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研使用zui廣泛的測(cè)厚儀器。

    篤摯儀器（上海）有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于大中型國(guó)有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè)，用于評(píng)價(jià)材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能，推動(dòng)著精良制造技術(shù)的精益求精。
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篤摯儀器（上海）有限公司
：張磊
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德國(guó)EPK高精度涂層測(cè)厚儀MiniTest 7400 創(chuàng)新的用戶界面概念結(jié)合便捷的數(shù)據(jù)管理，新產(chǎn)品MiniTest7400成為今天測(cè)量系統(tǒng)理想的解決方案。新概念的優(yōu)勢(shì)直觀的菜單控制及與上下文相關(guān)的聯(lián)機(jī)幫助，使用簡(jiǎn)易。大背光按鍵，即使戴著手套操作，也倍感舒適。大背光圖形顯示頻提供的觀察效果，即使在晚上或能見(jiàn)度極低的條件下使用也極其方便。配置管理幫助MiniTest 7400簡(jiǎn)化了校準(zhǔn)及參數(shù)設(shè)置，無(wú)需專業(yè)技能，也可在短的時(shí)間內(nèi)完成困難測(cè)量任務(wù)。
良好的數(shù)據(jù)管理如PC一樣提供快速創(chuàng)建文件夾和易于設(shè)置批組。除了數(shù)字顯示讀數(shù)，層次清楚的顯示統(tǒng)計(jì)值和讀數(shù)包括趨勢(shì)圖和直方圖、過(guò)程能力指數(shù)”Cp”和“Cpk”以及組統(tǒng)計(jì)值。錯(cuò)誤的讀數(shù)可以從批組中刪除以防止產(chǎn)生錯(cuò)誤的統(tǒng)計(jì)值。   龐大的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存器為必要的數(shù)據(jù)管理，可保存高達(dá)500批組的250,000個(gè)讀數(shù)。為滿足高精度測(cè)量的要求，7400探頭可達(dá)到5點(diǎn)校準(zhǔn)（包括零點(diǎn)）。

預(yù)設(shè)的校準(zhǔn)方法符合工業(yè)準(zhǔn)則和ISO 19840，SSPC，“瑞典”，“澳大利亞”的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)。 此外，延伸的特殊校準(zhǔn)方法也適用于粗糙表面的測(cè)量。 為了方便建立和評(píng)估測(cè)量值組和各種數(shù)據(jù)格式的輸出，標(biāo)準(zhǔn)配置包括計(jì)算機(jī)軟件包“MSoft 7 Professional”。軟件輸出數(shù)據(jù)如文本、Excel®分析總表或PDF文檔，并允許筆記和注解條目。特點(diǎn)：測(cè)量樣品的圖片可以添加到數(shù)據(jù)報(bào)告中。 配備眾多的接口，MiniTest 7400可以連接各種外接設(shè)備。
紅外接口(IrDA®1.0)可作為標(biāo)準(zhǔn)配置。一個(gè)多用接線盒可用來(lái)作為一個(gè)USB接口連接各種設(shè)備，如外借電源、耳機(jī)、腳踏開(kāi)關(guān)或警報(bào)器。對(duì)于單個(gè)裝置連接，則可選擇RS 232和USB連接線以及IrDA®//USB接口轉(zhuǎn)換器。模擬信號(hào)處理時(shí)代已成過(guò)去，數(shù)字信號(hào)處理將成為未來(lái)的趨勢(shì)。
SIDSP®明顯優(yōu)勢(shì)EPK此項(xiàng)探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理新技術(shù)為涂層測(cè)厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。高精度，高重現(xiàn)性，對(duì)溫度變化不敏感，適應(yīng)性強(qiáng)，這些都是SIDSP®的主要特點(diǎn)。

篤摯儀器有限公司代理的德國(guó)epk MiniTest7400涂層測(cè)厚儀探頭的適應(yīng)性有色金屬的導(dǎo)電性可能會(huì)有所不同。對(duì)這些基體使用自動(dòng)補(bǔ)償，基于電渦流原理可以使用N型探頭或者FN型探頭的N功能，可以測(cè)量多種導(dǎo)電性不同的有色金屬材料，無(wú)需特別在基體上校準(zhǔn)儀器。所有的SIDSP®探頭充分地適應(yīng)測(cè)量各種幾何形狀的樣品。可以對(duì)不規(guī)則形狀表面做出補(bǔ)償。當(dāng)您在無(wú)涂層基體上校零時(shí)，整個(gè)量程范圍都在這個(gè)特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進(jìn)行校準(zhǔn)。 探頭設(shè)計(jì)選擇不同的線纜插口類型更加靈活，來(lái)適應(yīng)測(cè)試要求。每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)探頭都可以提供直線纜插口或直角設(shè)計(jì)，后者可以測(cè)量難以進(jìn)入的類似管和中空零件。 對(duì)由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環(huán)境中提供終保護(hù)，MiniTest 7400提供了一個(gè)特制的堅(jiān)固探頭系列（HD探頭）。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來(lái)保護(hù)探頭設(shè)備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。對(duì)于粗糙表面，“F2 HD”型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。