Fischer XDAL237 X射線熒光測厚儀

• 更新時(shí)間：2020-09-17
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Fischer XDAL237 X射線熒光測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器的測量空間寬大，可以用于測量復(fù)雜幾何形狀的各種樣品。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置*高可達(dá)140mm高度的樣品。C型槽設(shè)計(jì)可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品。測量系統(tǒng)配有快速可編程的XY平臺(tái)，因而可以方便地按照預(yù)定程序掃描檢查樣品表面

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Fischer XDAL237 X射線熒光測厚儀

X射線熒光測量儀，帶有快速可編程的XY平臺(tái)和Z軸，可自動(dòng)測量薄涂層厚度和進(jìn)行材料分析。在設(shè)計(jì)上，FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對(duì)應(yīng)。區(qū)別在于使用的探測器類型不同。在XDAL上，使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測器，從而有了遠(yuǎn)好于XDLM使用的比例計(jì)數(shù)器的能量分辨率。因而，這臺(tái)儀器適合于一般材料分析，痕量元素分析及測量薄鍍層厚度。

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器的測量空間寬大，可以用于測量復(fù)雜幾何形狀的各種樣品。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置*高可達(dá)140mm高度的樣品。C型槽設(shè)計(jì)可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品。測量系統(tǒng)配有快速可編程的XY平臺(tái)，因而可以方便地按照預(yù)定程序掃描檢查樣品表面。此外，在如引線框架等樣品上進(jìn)行多點(diǎn)測量，或是在多個(gè)不同樣品上進(jìn)行批量測量，都可以通過快速編程自動(dòng)化地完成。 X射線源是一個(gè)能產(chǎn)生很小光斑面積的微聚焦X射線管。然而，由于相對(duì)較小的探測器有效接收面積（相比較比例計(jì)數(shù)器探測器來說），信號(hào)強(qiáng)度低，故XDAL有限適用于極微小結(jié)構(gòu)和測量點(diǎn)的測量。和XDLM類似，準(zhǔn)直器和基本濾片是可自動(dòng)切換，以便為不同測量程式創(chuàng)造*佳的激勵(lì)條件。

主要特征：

?帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管。
?*高工作條件： 50 kV, 50W
?X射線探測器采用珀?duì)柼吕涞墓?/span>PIN二極管
?準(zhǔn)直器：4個(gè)，可自動(dòng)切換，從直徑Ø 0.1mm 到 Ø 0.6 mm
?基本濾片：3個(gè)，可自動(dòng)切換
?測量距離可在0—80mm范圍內(nèi)調(diào)節(jié)
?可編程XY平臺(tái)
?視頻攝像頭可用來實(shí)時(shí)查看測量位置，十字線上有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度標(biāo)尺，而測量點(diǎn)實(shí)際大小也在圖像中顯示。
?設(shè)計(jì)獲得許可，防護(hù)全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

應(yīng)用領(lǐng)域：

?鍍層與合金的材料分析（包括薄鍍層以及低含量）。
?來料檢驗(yàn)，生產(chǎn)監(jiān)控。
?研發(fā)項(xiàng)目
?電子行業(yè)
?接插件和觸點(diǎn)
?黃金、珠寶及手表行業(yè)
?測量印刷線路板上僅數(shù)個(gè)納米的Au和Pd鍍層
?痕量分析
?根據(jù)高可靠性要求測量鉛Pb含量
?分析硬質(zhì)鍍層材料