尼克斯qnix 4200單功能磁性測(cè)厚儀

• 更新時(shí)間：2018-05-22
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尼克斯qnix 4200單功能磁性測(cè)厚儀
尼克斯qnix 4200不同于雙功能型QNIX 4500涂層測(cè)厚儀，qnix 4200只有單磁性探頭。測(cè)量范圍磁性基體（Fe模式）:0-3000μm，具有QNIX 4500型的所有優(yōu)點(diǎn)。如無需校準(zhǔn)、溫度補(bǔ)償、紅寶石探頭，*的直流技術(shù)等。

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尼克斯qnix 4200單功能磁性測(cè)厚儀

尼克斯qnix 4200不同于雙功能型QNIX 4500涂層測(cè)厚儀，qnix 4200只有單磁性探頭。測(cè)量范圍磁性基體（Fe模式）:0-3000μm，具有QNIX 4500型的所有優(yōu)點(diǎn)。如無需校準(zhǔn)、溫度補(bǔ)償、紅寶石探頭，*的直流技術(shù)等。

QNix4200為磁性測(cè)厚儀，可以用來測(cè)量鋼、鐵等磁性基體上的涂層，鍍層　
·只需調(diào)零，無需校準(zhǔn)
·體積小巧，操作方便

主要技術(shù)參數(shù)：
·測(cè)量范圍：磁性基體（Fe模式）:0-3000μm
·zui小基體厚度：Fe:0.2mm
·精度：0-50um:≤±1μm，50-1000μm:≤±1.5%讀數(shù)，1000-3000μm≤±3%讀數(shù)
·zui小接觸面：10×10mm
·zui小曲率半徑：凸面：3mm，凹面：25mm
·電源：2節(jié)1.5V干電池
·外形尺寸：100×60×27mm，重量：110g 

QNix4200德國(guó)尼克斯涂鍍層測(cè)厚儀無需校準(zhǔn)：
多數(shù)測(cè)厚儀除了校零外，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度，要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。
溫度補(bǔ)償：
涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)，以保證不同溫度下的測(cè)量精度。
紅寶石探頭：
探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會(huì)帶來很大的誤差。
*的直流采樣技術(shù)：
使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有*的*和提高。